無錫創(chuàng)凱旗下的藍(lán)膜芯片瑕疵檢測AOI設(shè)備為晶圓切割后芯粒檢測設(shè)備，使用先進(jìn)的打光技術(shù)，可以清楚的辨別芯粒的外觀瑕疵。結(jié)合不同的光源角度、亮度及取像模式，使得設(shè)備可廣泛應(yīng)用于LED、激光二極管及光敏二極管等精密電子產(chǎn)業(yè)。由于使用的高速相機(jī)以及自行開發(fā)的深度學(xué)習(xí)AI算法，設(shè)備可以快速高效的檢測出芯品的缺陷瑕疵， 單顆芯片的處理時間可以達(dá)到15msec。設(shè)備同時提供自動對焦與翹曲補償功能，以克服芯片薄膜的翹曲與載具的水平問題。設(shè)備配備自動變焦鏡頭系統(tǒng)，百萬級數(shù)碼變焦彩色相機(jī)，使用者可快速依芯粒或瑕疵尺寸進(jìn)行操作。系統(tǒng)的小分辨率為0.5um，可以檢測1.5um尺寸的瑕疵產(chǎn)品。希望對您有所幫助。

無錫市創(chuàng)凱電氣控制設(shè)備有限公司主要從事的就是工業(yè)自動化控制領(lǐng)域檢測類的產(chǎn)品研發(fā)及解決方案。無錫創(chuàng)凱研制的藍(lán)膜芯片瑕疵檢測AOI設(shè)備性能優(yōu)異，在辨別芯粒的外觀瑕疵方面有著很高的效率，在市場上的使用評價不錯，感興趣建議可以實地考察一下。

無錫創(chuàng)凱有著對工業(yè)控制領(lǐng)域多年積累的經(jīng)驗，在藍(lán)膜芯片檢測AOI設(shè)備的生產(chǎn)制造上有雄厚的技術(shù)實力，所出品的藍(lán)膜芯片檢測AOI設(shè)備智能化程度高，應(yīng)用廣泛，能夠為客戶解決眾多高端制造中的多種難題，有著很好的行業(yè)口碑。