● 完善的測試測量設備。 ● 測量全過程和數據管理自動化。集成電路測試系統 FORMULA? HF3 平臺測試系統有兩個型號： FORMULA? HF3 和 FORMULA? HF3512，都是用于多種高速超大規模集成電路的功能測試，包括：微型控制器、靜態和動態存儲、超大規模集成電路母片（master slice）、ASIC、FPGA等，信號輸出高達256/512，工作頻率高達200MHz。   應用范圍 FORMULA  HF3 測試系統是一套用于測試超高頻率超大規模集成電路的功能和參數的自動測試設備。 用于超大規模集成電路的質量控制、新開發的超大規模集成電路品種的測試和研究以及系列產品的生產監控。 FORMULA HF3 測試系統能滿足微電子領域的計量測試標準。   FORMULA HF3 平臺測試系統的基本技術特性和功效 FORMULA HF3 平臺測試系統是為了可靠測試多種大規模集成電路而研發出來的。 這個測試系統的關鍵技術特性，由下列數值確定： ● 通用雙向通道數——高達256/512. ● 功能測試頻率——每個

 ● 方便用戶的全功能軟件。 ● 測量配件快速互換。 ● 自動診斷和計量校準。

 ● 自動探針、帶有自動裝料、測試設備和儀器的操作模式。 ● 高容量多點模式。 ● 全晝夜連續可靠工作。