半導體測試系統用于全面自動檢驗半導體設備靜態參數的通用測試和測量系統，包括：場效應管和雙極型晶體管、絕緣柵雙極型晶體管、二極管、晶閘管、穩壓管、光導發光組件和微電子組件，以及： ● 電容測量：用于場效應晶體管和絕緣柵雙極型晶體管的輸入、交叉和輸出電容。半導體測試系統 FORMULA? TT3 由FORMULA? TT3 ATE提供的各個階段的高水平全面自動化測試過程，使得我們有可能專注于半導體器件測試的運行特性和偏差分析上。 硬件/軟件、設計以及在系統測試中實現的計算解決方案保證了高度可靠的結果，這些結果使測試人員的工作不受程序和誤差的影響，并在工業設備進行測量和測試時顯著提高操作效率。

半導體測試系統用在進行半導體器件新開發類型的測試和研究，以及批量生產中測試時對半導體器件的質量控制。 FORMULA? TT3滿足微電子測量和測試的計量標準要求。

半導體測試系統用于場效應晶體管和絕緣柵雙極型晶體管的柵漏、柵源和總電荷； ● 被動組件特定參數測量（L、C、R）。